陶瓷粉末堆积密度测定仪
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JW-004氮吸附比表面积测定仪
本机可以同时应用两种方法测定比表面积,用"直接对比法"与JW-04型完全相同,还可应用BET方法,以定量体积的氮气为标样,通过BET方程求出被测样的比表面积。这种方
三星技术x光食品异物检测机
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全自动比表面积及孔结构(孔体积)测定仪
精微高博公司研制JW系列静态容量法及动态法比表面积分析仪 全自动氮吸附比表面积仪 比表面积测试仪 比表面积及孔隙度分析仪 比表面及孔隙率测定仪 比表面积
质构仪(物性分析仪、物性测试仪)
物性测试仪(质构仪)-TA.XTPlus,由英国Stable Micro System公司设计生产,可对样品的物性概念作出数据化的表述。